TE253西門子星圖測試卡設(shè)計(jì)用于檢查分辨率。在圖像的中心,該圖表包含方形的徑向正弦調(diào)制西門子星,灰色補(bǔ)丁和黑色方塊內(nèi)有白色小的正方形。圖表的邊框有16個(gè)灰色補(bǔ)丁用于自校準(zhǔn)。邊角顯示更大的黑色方形,并有一個(gè)更小的白色正方形在它的內(nèi)部。西門子星可擁有144和72周期。兩組傾斜邊緣提供四個(gè)不同的調(diào)制(40%,60%,80%,100%)。
西門子星圖測試卡與ISO12233:2014標(biāo)準(zhǔn)是一致的。印刷在粗面紙上。
(1)Target allows multiple samples of MTF measurements to be taken from any point within the circumference of the circle.
(2)可以在Imatest軟件的星狀圖模塊上測量清晰度
(3)比起eSFR分析來說西門子星狀圖對圖像處理不太敏感。
(4)有用于提高測試重復(fù)性設(shè)計(jì)的抵制噪點(diǎn)。
(5)包含用于對比的低對比度的水平和垂直方向的雙曲線。
(6)比起雙曲線在位置選擇上變化的差異小。
(7)可以從各個(gè)角度,如水平、垂直、徑向和切向等測量清晰度。
(8)包含用于自動識別分析的標(biāo)識
尺寸 | S.I. | Imperial |
1x | 250 mm x 333.33 mm | 9.84" x 13.11" |
1.5x | 375 mm x 500 mm | 14.76" x 19.66" |
2x | 500 mm x 666.67 mm | 19.69" x 26.22" |
3x | 750 mm x 1000 mm | 29.53" x 39.34" |
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